High-Power Multicarrier Generation for RF Breakdown Testing

  1. Monerris Belda, O.
  2. Diaz Caballero, E.
  3. Boria, V.E.
  4. Gimeno, B.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Año de publicación: 2017

Volumen: 64

Número: 2

Páginas: 556-563

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TED.2016.2641243 GOOGLE SCHOLAR

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