High-Power Multicarrier Generation for RF Breakdown Testing

  1. Monerris Belda, O.
  2. Diaz Caballero, E.
  3. Boria, V.E.
  4. Gimeno, B.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Argitalpen urtea: 2017

Alea: 64

Zenbakia: 2

Orrialdeak: 556-563

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TED.2016.2641243 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus