Thru-reflect-line calibration for substrate integrated waveguide devices with tapered microstrip transitions

  1. Diaz Caballero, E.
  2. Belenguer, A.
  3. Esteban, H.
  4. Boria, V.E.
Zeitschrift:
Electronics Letters

ISSN: 0013-5194

Datum der Publikation: 2013

Ausgabe: 49

Nummer: 2

Seiten: 132-133

Art: Artikel

DOI: 10.1049/EL.2012.3027 GOOGLE SCHOLAR
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