Thru-reflect-line calibration for substrate integrated waveguide devices with tapered microstrip transitions

  1. Diaz Caballero, E.
  2. Belenguer, A.
  3. Esteban, H.
  4. Boria, V.E.
Aldizkaria:
Electronics Letters

ISSN: 0013-5194

Argitalpen urtea: 2013

Alea: 49

Zenbakia: 2

Orrialdeak: 132-133

Mota: Artikulua

DOI: 10.1049/EL.2012.3027 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus